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| IーTRIZによる原因分析・リスク管理 スヴェトラーナ・ヴィスネポルスキー 黒澤愼輔 日刊工業新聞社BKSCPN_【高額商品】 発行年月：2013年02月 ページ数：239p サイズ：単行本 ISBN：9784526070150 ヴィスネポルスキー，スヴェトラーナ（Visnepolschi,Svetlana） 1976年レニングラード精密機械・光学単科大学修士。1983年に創成者ゲンリフ・アルトシューラよりTRIZを学びTRIZ専門家となり、その後ボリース・ズローチンに師事する。1985年にはズローチンと共にTRIZの資源探索アルゴリズムを開発。同年よりAFD（Anticipatory Failure Determination、原因究明とリスク予測の思考法）の研究・改良に従事。長年にわたってコンサルタントとして多数の問題の解決に携わる一方でTRIZの教育を行う（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 第1部 AFD不具合分析ー不具合の隠れた発生メカニズムを明らかにする（全てを知らなければならないのか／当初の問題を表現し直す／問題の逆転を行う ほか）／第2部 AFD不具合予測ー不具合を予測する（AFPの鍵となる要素／AFPの手順／AFPのために必要な情報 ほか）／第3部 まとめと補足（まとめ／技術以外の分野へAFDを適用する／AFDソフトウェア） 不具合対策のプロが編み出した暗黙知を誰でも使える手法で紹介。企画部門、設計部門、品質保証部門、サービス部門での必携書。 本 科学・技術 工学 その他 | |||
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